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合測(cè)實(shí)業(yè)為MVX美國(guó)達(dá)高特DAKOTA超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷(xiāo)商，美國(guó)DAKOTA ULTRASONICS公司帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX，能夠滿足*的厚度應(yīng)用。符合NIST和MILSTD- 45662A標(biāo)準(zhǔn)。

合測(cè)實(shí)業(yè)為時(shí)代TT100超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，TT100超聲波測(cè)厚儀量程0.8—300mm（鋼，由探頭決定），利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，在TT100基礎(chǔ)上增加了背光功能，適合在光線不好的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。

合測(cè)實(shí)業(yè)為德國(guó)KK /美國(guó)GE高精密超聲波測(cè)厚儀CL5一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷(xiāo)商，CL5超聲波測(cè)厚儀測(cè)量范圍0.13至500mm,分辨率為0.001mm,六種測(cè)量和顯示模式：常規(guī)、Z小厚度捕獲、Z大厚度捕獲、差值和減薄率、聲速測(cè)試（要求配有CL 5V選項(xiàng)）和厚度+A掃描（要求配有實(shí)時(shí)A掃描選項(xiàng)）.

合測(cè)實(shí)業(yè)為德國(guó)EPK MiniTest400超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，此系列有3個(gè)型號(hào)MiniTest400/400A/400B,高阻抗雙晶探頭,脈沖－回波方式，量程達(dá)0.65-500mm,回波－回波方式（透過(guò)涂層測(cè)量）量程達(dá)3-25mm。

美國(guó)Dakota MMX-6超聲波測(cè)厚儀具有涂層穿透功能，脈沖回波方式，測(cè)量范圍0.63～500mm（取決于探頭），成功地增加了一些新功能而開(kāi)發(fā)的新MMX系列多功能產(chǎn)品。MMX-6不僅兼容了MX系列探頭的耐久性等特長(zhǎng)，還增加了涂層穿透功能，在被測(cè)物表面有油漆時(shí)，無(wú)需去除油漆而測(cè)量材料的凈厚度。

合測(cè)實(shí)業(yè)為美國(guó)達(dá)高特MX-5超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，MX-5超聲波測(cè)厚儀比MX-3多報(bào)警功能、差值方式和RS232口，標(biāo)準(zhǔn)探頭測(cè)量范圍1.0～152mm，顯示精度：0.01mm。

合測(cè)實(shí)業(yè)為美國(guó)泛美MG2超聲波測(cè)厚儀廠家一級(jí)代理商，MG2超聲波測(cè)厚儀包括MG2/MG2-XT/MG2-DL超聲波測(cè)厚儀，是測(cè)量有內(nèi)部腐蝕的部件Z為理想的便攜式測(cè)厚儀，使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度，有多種探頭可選，可對(duì)厚度在0.5mm--635mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進(jìn)行測(cè)量。

合測(cè)實(shí)業(yè)為美國(guó)泛美26MG超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，26MG超聲波測(cè)厚儀系列是美國(guó)泛美推出的手持式超聲波測(cè)厚儀，包括26MG/26MG-XT和26MG-DL,是測(cè)量腐蝕金屬理想的便攜式測(cè)厚儀，使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度，有多種探頭可選。

合測(cè)實(shí)業(yè)為日本AD-3253B超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，AD-3253B超聲波測(cè)厚儀測(cè)量范圍0.8-100.0mm，利用超聲脈沖發(fā)射原理，用于金屬、塑料等不同材料的厚度測(cè)量和腐蝕檢查，能測(cè)定不同材料聲速，并能存儲(chǔ)聲速，設(shè)計(jì)精密，體積小、重量輕，低電指示，英制/公制互換，自動(dòng)關(guān)機(jī)。

合測(cè)實(shí)業(yè)為美國(guó)達(dá)高特MX-3超聲波測(cè)厚儀一級(jí)代理商，MX-3超聲波測(cè)厚儀測(cè)量范圍：0.63～500mm（取決于探頭），使用簡(jiǎn)單，功能齊全，體積小巧，可靠性高，可測(cè)量鑄鐵、塑料、玻璃纖維、鋼、玻璃、鋁、銅等材料，是一種可信賴(lài)的精密測(cè)量工具，無(wú)需特別培訓(xùn)即可操作，將探頭放到被測(cè)材料的上面，就可讀出被測(cè)材料的厚度，或是沿被測(cè)材料的表面拖動(dòng)探頭，可以自動(dòng)找出被測(cè)材料的Z薄點(diǎn)。